麦麸结构层粉体的电特性研究

为了确定麦麸结构层粉体静电场分离的可行性,该文以高纯度麦麸糊粉层和外果皮粉体为原料,研究其介电性、导电性和电晕带电特性的差异。结果表明,麦麸粉体的介电常数随频率的增加而降低,最终趋于一致;当频率较低时,外果皮的相对介电常数明显低于糊粉层;当频率为300 MHz时,两者的介电常数之比最大达5.3;麦麸粉体的导电性差,糊粉层粉体的电阻率为2300MΩ/cm,为外果皮电阻率的5倍;经正电晕带电后,糊粉层粉体所获电荷量约为外果皮的1.7倍,具有明显差异;单位质量麦麸粉体所获电荷量随电晕电压的增加而增加,而随麦麸粉体的含水率和粒径的增大而减小。总之,麦麸结构层粉体的介电性、导电性和电晕带电性均存在明显差异,可以利用介电泳和电晕带电后的静电场分离技术对麦麸结构层进行分离纯化。