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1.
一叶兰抗冻性研究   总被引：2，自引：0，他引：2  
对一叶兰叶片进行不同低温处理,测定其电导度并求得细胞膜伤害率(MIP),用Logistic方程对MIP进行拟合.结果表明,一叶兰细胞膜伤害率(y)与低温(x,℃)胁迫呈y=0.8128/(1+14.116 3e<'0.416x>曲线关系,并求得一叶兰的半致死温度(LT<,50>)为-6.36℃.  相似文献   
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