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为探讨硅铁施用对水稻生长和磷吸收的影响,指导合理施肥、提高磷素利用率,利用水培试验研究了不同浓度铁(0、0.5、1、2 mmol·L-1)预处理下施加不同浓度硅(0、1、4 mmol·L-1)对水稻生长及磷吸收的影响。结果表明,低浓度的铁预处理对水稻SPAD、株高、根长和地上部干质量无显著影响,而高浓度的铁预处理下,这些指标则显著降低(P<0.05)。中低浓度铁处理下施硅在一定程度上增加了水稻株高、根长和地上部干质量,但未达到显著水平(P>0.05)。铁预处理显著增加了水稻根表铁膜的厚度及根表铁膜中的磷含量(P<0.05),施硅则显著降低了0.5 mmol·L-1和1 mmol·L-1铁预处理的水稻根表铁膜的厚度(P<0.05)。铁预处理对水稻根部的磷含量无显著影响,但显著降低了地上部磷的含量(P<0.05)。施硅对水稻根和地上部的磷含量无显著影响。研究表明,施铁处理显著诱导了根表铁膜的出现,增加了铁膜中的磷含量并且显著降低了地上部的磷含量;施硅在一定程度上缓解了水稻生长中的铁毒害现象,并且能够改变根表铁膜厚度,减少根冠比,从而影响水稻磷的吸收转运。  相似文献   
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