首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     


Retrospective estimation of the data of infection with beet yellowing viruses in sugar-beet under field conditions
Authors:W. Van Der Werf  F. Bonnier  D. Peters
Affiliation:(1) Department of Virology, Wageningen Agricultural University, P.O. Box 8045, 6700 EM Wageningen, the Netherlands;(2) Department of Theoretical Production Ecology, Wageningen Agricultural University, P.O. Box 430, 6700 AK Wageningen, the Netherlands
Abstract:Sugar-beet plants, infected with beet yellows virus (BYV, closterovirus group) or beet mild yellowing virus (BMYV, luteovirus group) develop symptoms on the inoculated leaves on which aphids infected the plant. Symptoms develop also on the systemically-infected leaves to which virus has been transported via the phloem. Systemic infection occurs in the leaves which have just, or not yet appeared at the moment of infection of the plant. All other, older leaves remain uninfected. The infection-date can be estimated by assessing the date of appearance of the oldest systemicallyinfected leaf of a plant. This approach was tested in the field and gave good results.Samenvatting Suikerbieteplanten die besmet zijn met het bietevergelingsvirus, BYV, of met het zwakke vergelingsvirus, BMYV, ontwikkelen symptomen op de geïnoculeerde bladeren, waarop infectieuze bladluizen virus hebben overgedragen, én op de systemisch besmette bladeren waarheen het virus vanuit de geïnoculeerde bladeren is getransporteerd via het vaatsysteem. Bladeren die op het moment van infectie nog niet verschenen zijn of vlak ervóór zijn verschenen, worden systemisch besmet, terwijl oudere bladeren gezond blijven. De infectiedatum kan worden bepaald door aan de hand van temperatuursommen de verschijningsdatum van het oudste systemisch besmette blad te berekenen. Deze methode bleek bij toetsing in het veld goed te voldoen.
Keywords:beet yellows virus  closterovirus  beet mild yellowing virus  luteovirus  systemic virus transport  phloem translocation  phyllotaxis  leaf arrangement  leaf appearance  temperature sum  symptom development
本文献已被 SpringerLink 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号