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不同螨口密度下苹果树冠被害状田间光谱研究初报
作者姓名:金瑞华  黄可训  秦玉川  陈宏  王家圣  张宏名  卢志光  金钟辉
作者单位:北京农业大学植保系,北京农业大学植保系,北京农业大学植保系,北京农业大学植保系,北京农业大学遥感所,北京农业大学遥感所,北京农业大学遥感所,北京农业大学遥感所
摘    要:苹果树冠受害螨危害后,被害程度与螨口密度有关。本文研究了在不同螨口密度下苹果树冠被害状的光谱特性,并利用此来估计螨口密度。初步建立了一系列预测式如下。 1.利用Ⅰ波段(500—600nm)的预测式

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