稻瘟病抗性位点Pik-InDel分子标记开发及其在育种上的应用

水稻Pik位点含有至少6个抗病基因,它们都包含在该位点功能区域中。因此,有效区分出功能区域是鉴定该基因座功能基因的首要条件。本研究通过对水稻抗稻瘟病Pik基因座上已克隆的功能基因,包括Pik、Pi-k~p、Pi-k~h、Pi-1、Pi-k~m和Pi-k~s及非功能基因序列的相互对比,鉴定到Pik基因座特异的核苷酸差异,开发了基于PCR技术的Pik基因座的插入/缺失(insert-deletion, InDel)标记,能有效地将Pik上功能基因与其它非功能基因的基因座区分开。利用Pik基因座的分离群体进行标记选择与接种鉴定,结果表明Pik-InDel标记能精确的选择出Pik功能基因座。用Pik-InDel标记对20份重要水稻不育系进行分子检测,该标记能准确地将抗性基因座与其它非抗病基因座区分开来,这为筛选水稻稻瘟病抗性种质资源,以及抗性标记辅助抗病育种提供了便利。