锦橙辐射育种二代分离的研究

作者从1972年至1982年以锦橙接穗为试材开展柑桔辐射育种工作。近几年来发现辐射第二代分离显著,并对14个优变单系的VM_2代植株的叶形、翼叶、针剌、叶面积的大小和枝条节间长短进行了逐株调查。在此基础上选其中两个优系和对照分单株取头年春梢上的叶片,用邓肯氏多重差异范围测验法对叶长、叶宽和叶面积进行统计分析。研究结果表明,锦橙接穗为辐射育种试材,其选优单系VM_2代产生57.0％的显著分离现象。通过对其中两个优系及对照VM_2代的叶长、叶宽、叶面积进行统计分析,说明同一优系各单株间的差异达到显著程度。