| 扫描电镜-X射线能谱分析法测定重离子束注入小麦种子的深度 |
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| 引用本文： | 杨汉民,韩榕,高清祥,卫增泉,刘玉岩,王桂玲.扫描电镜-X射线能谱分析法测定重离子束注入小麦种子的深度[J].核农学报,1993,7(4):198-202. |
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| 作者姓名： | 杨汉民 韩榕 高清祥 卫增泉 刘玉岩 王桂玲 |
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| 作者单位： | 兰州大学生物系,兰州大学生物系,兰州大学生物系,中国科学院兰州近代物理研究所,中国科学院兰州近代物理研究所,中国科学院兰州近代物理研究所 兰州 730000 ,兰州 730000 ,兰州 730000 ,兰州 730000 ,兰州 730000 ,兰州 730000 |
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| 摘 要： | 用110 keV Fe~(1+)离子束对小麦种子进行注入处理,以扫描电镜-X射线能谱分析法测定Fe~(1+)离子的注入深度。测定结果表明:Fe~(1+)离子虽已进入种皮,但未达到胚部,最大注入深度为72μm。
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| 关 键 词： | 小麦 Fe~(1+) 离子注入 扫描电镜-X射线能谱分析 |
| 收稿时间： | 2009-12-31 |
| 修稿时间： | 2009-12-31 |
THE DEPTH OF LOW ENERGY HEAVY IONS Fe~(1+) IMPLANTING INTO WHEAT SEEDS DETECTED BY SEM-EDAX |
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| Abstract: | The wheat seeds were implanted with Fe1+ low energy heavy ions which were produced by 200 keV implantation ion installation at Institute of Modern Physics,Lanzhou.The implantation depth of Fe1+ ion was determined by means of a scanning microscope energy dispersive analysis of X-ray (SEM-EDAX).The analysis in this experiment showed that the implantation depth of Fe1+ ions was not more than 72μm,the ions stayed only in seed surface layer. |
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| Keywords: | wheat heavy ion ion implanting sem-edax |
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