邻菲罗啉化学修饰碳糊电极三元络合物体系测定痕量钴

制备了邻菲罗啉化学修饰碳糊电极，在含噻吩甲酰三氟丙酮的ＨＡｃ－ＮａＡｃ体系中，Ｃｏ（Ⅱ）离子经化学富集在电极一须上形成三元络合物，采用２．５次微分伏安法测定痕量Ｃｏ（Ⅱ）离子，Ｃｏ（Ⅱ）浓度在８．０×１０＾－９～７．０×１０＾－７ｍｏｌ．Ｌ＾－１范围内与阳极溶出峰峰高成良好的线性关系，检出限达１．２×１０＾－９ｍｏｌ．Ｌ＾－１电极用于水样中钴的测定，结果令人满意。