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基于激光图像分析的苹果表面损伤和内部腐烂检测
引用本文:陈育彦,屠康,柴丽月,潘磊庆. 基于激光图像分析的苹果表面损伤和内部腐烂检测[J]. 农业机械学报, 2009, 40(7)
作者姓名:陈育彦  屠康  柴丽月  潘磊庆
作者单位:南京农业大学食品科技学院,南京,210095;南京农业大学食品科技学院,南京,210095;南京农业大学食品科技学院,南京,210095;南京农业大学食品科技学院,南京,210095
基金项目:国家高技术研究发展计划(863计划),江苏省自然科学基金,国家自然科学基金,教育部新世纪优秀人才支持计划 
摘    要:利用波长650 nm、功率25 mW的半导体激光及计算机视觉技术,初步探讨了利用激光图像分析检测苹果(嘎拉)采后表面损伤和内部腐烂检测的可行性.利用钢球砸伤,模拟苹果在采收和运输过程中受到的损伤;利用微量注射器从苹果底部将15 μL(10 5/mL孢子浓度)的青霉菌液注入果心部位使其腐坏,模拟苹果内部的腐烂.进行激光图像检测试验,结果表明,受损伤后苹果图像像素数S3在36 h达到最高值(3 964),且在1~84 h内与对照差异显著(P≤0.05);接种后的苹果随着内部的腐烂,在第4 d时像素数S3达到最高值(3 682),而后开始下降,第7 d与对照差异显著(P≤0.05).初步验证本方法检测苹果表面的损伤和内部腐烂是可行的.

关 键 词:苹果  损伤  内部腐烂  计算机视觉  半导体激光

Apple Surface Damage and Inner Decay Detection Based on Laser Scattering Image Analysis
Chen Yuyan,Tu Kang,Chai Liyue,Pan Leiqing. Apple Surface Damage and Inner Decay Detection Based on Laser Scattering Image Analysis[J]. Transactions of the Chinese Society for Agricultural Machinery, 2009, 40(7)
Authors:Chen Yuyan  Tu Kang  Chai Liyue  Pan Leiqing
Affiliation:College of Food Science and Technology;Nanjing Agricultural University;Nanjing 210095;China
Abstract:
Keywords:Apple  Surface damage  Inner decay  Computer vision  Semiconductor laser  
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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