首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      


Genetic Analysis and Molecular Mapping of Two SMV-Resistance Traits in Soybean:Adult-Plant Resistance and Resistance to Seed Coat Mottling
Abstract:
Keywords:
本文献已被 CNKI 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号