基于高光谱成像的玉米螟无损检测最优波段的选取

为解决玉米茎秆虫害早期无损检测问题,以提供玉米虫害预测预警与精确喷药理论依据,利用高光谱成像技术,提出了分段混合距离方法,明确玉米茎杆玉米螟虫害无损检测的最优波段,提取单波段特征图像,分割虫孔,以实现对玉米螟的快速、准确、无损检测。首先通过对玉米茎杆高光谱图像的分析,根据玉米茎杆高光谱图像的玉米茎秆区域与背景区域各个波段的光谱反射率的差异,选取450nm的图像,利用阈值分割的方法,获得掩模图像。然后根据可见光波段530~600nm范围和近红外波段750~900 nm范围光谱相关性小的特点,应用混合距离作为测量参数,筛选最佳单波段、双波段组合,最终确定754.8 nm波段为最优波段。提取该波段的图像为特征图像,采用阈值分割与数学形态学方法对玉米螟虫孔进行分割,从而检测出玉米螟虫孔区域,判定玉米茎秆是否存在虫害。结果表明:通过对测试集和验证集中60个玉米螟玉米茎杆和40个正常玉米茎杆的检测分析,得出玉米螟的检测正确率为100%,正常玉米茎的检测正确率为90%,整体检测正确率为96%。说明所获得的最优波段可为开发玉米茎虫害多光谱成像检测仪提供参考。