测量系统分析在无损检测中的运用与实践

随着工业技术的提高，对产品质量的要求也越来越高，无损检测作为产品质量保证的重要一环，具有核心地位。基于生产计划要求，新加入了超声波检测设备，并增加了新型叶片的X射线检测任务，为确保无损检测结果的可靠性，亟需对无损检测系统进行系统分析。测量系统分析可确定测量系统的总变差，通过分析变差来源以及采取措施保证测量系统的重复性和再现性。采用测量系统分析方法对超声波检测系统及X射线检测系统进行系统分析，结果表明：现有X射线检测可满足新型叶片的缺陷检测要求；新引入超声波检测系统稳定性及准确性合格，可投入使用。