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| GIS设备典型缺陷及局部放电检测方法 | |
| 引用本文： | 任保忠,王军德,王鲲鹏,李东,孙飞.GIS设备典型缺陷及局部放电检测方法[J].农村电气化,2013(4):23-24. |
| 作者姓名： | 任保忠 王军德 王鲲鹏 李东 孙飞 |
| 作者单位： | 聊城供电公司 |
| 摘 要： | GIS设备并非不存在缺陷,其从厂家生产到现场装配过程中都有可能产生缺陷。统计显示,GIS设备内部故障以绝缘性故障为多。GIS设备中绝缘性故障会导致内部局部放电的产生,使SF6气体分解,导致电场畸变,腐蚀绝缘材料,最终引发绝缘击穿。GIS设备一旦发生绝缘闪络, |
| 关 键 词： | 局部放电 检测方法 典型缺陷 设备 绝缘子 金属微粒 气体分解 主要缺陷 电场畸变 存在缺陷 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |