| 一种高速ADC静态参数的内建自测试结构 |
| |
| 引用本文： | 朱彦卿,何怡刚,阳辉,刘美容.一种高速ADC静态参数的内建自测试结构[J].湖南农业大学学报(自然科学版),2007,34(10). |
| |
| 作者姓名： | 朱彦卿 何怡刚 阳辉 刘美容 |
| |
| 作者单位： | 湖南大学电气与信息工程学院 湖南长沙410082 |
| |
| 基金项目： | 国家自然科学基金
,
教育部高等学校博士学科点专项科研基金
, |
| |
| 摘 要： | 针对混合信号电路的测试问题,提出了一种内建自测试(BIST)结构,分析并给出了如何利用该结构来计算片上高速模数转换器(ADC)的静态参数.该方法利用三角波信号作为测试激励,采用码密度直方图分析方法快速计算ADC的各静态参数.根据改进测试算法所构造的BIST结构实现了芯片内只有ADC电路的可测性设计,而不需要用到片内集成DSP.内嵌的信号发生器能自动生成高频连续三角波测试信号,适合高速ADC的测试.该BIST结构硬件开销小,易于片上集成,仿真试验表明了该结构的有效性.
|
| 关 键 词： | 码密度直方图 内建自测试 ADC测试 |
A High-Speed BIST Architecture for ADC Parameters Testing |
| |
| ZHU Yan-qing,HE Yi-gang,YANG Hui,LIU Mei-rong.A High-Speed BIST Architecture for ADC Parameters Testing[J].Journal of Hunan Agricultural University,2007,34(10). |
| |
| Authors: | ZHU Yan-qing HE Yi-gang YANG Hui LIU Mei-rong |
| |
| Institution: | College of Electrical and Information Engineering,Hunan Univ,Changsha,Hunan 410082,China |
| |
| Abstract: | Aiming at the mixed-signal circuit testing,an integrated built-in self test(BIST) architecture for testing on-chip high speed ADC was presented.The static parameters of ADC were extracted from the histogram of ADC''s out codes,which was stimulated with tri |
| |
| Keywords: | histogram built-in self test ADC testing |
|
| 点击此处可从《湖南农业大学学报(自然科学版)》浏览原始摘要信息 |
| 点击此处可从《湖南农业大学学报(自然科学版)》下载免费的PDF全文 |
|
