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基于神经网络和广义互测试的大规模电路故障诊断
引用本文:何怡刚 徐卫林 厉芸. 基于神经网络和广义互测试的大规模电路故障诊断[J]. 湖南农业大学学报(自然科学版), 2004, 31(6)-40,59
作者姓名:何怡刚 徐卫林 厉芸
作者单位:湖南大学电气与信息工程学院,湖南长沙410082
基金项目:高校博士学科点专项科研基金资助项目(20020532016),湖南省杰出青年基金资助项目[0 3GKY3115,04FJ2003]
摘    要:对于大规模电路或者非线性电路的诊断,存在故障定位困难和诊断速度比较低的问题,对此本文提出了一种基于神经网络和广义互测试的大规模集成电路故障诊断方法,给出了这种方法的诊断步骤,并进行了仿真实践,结果证明对于子网络级的故障定位是有效的。

关 键 词:神经网络 广义互测试 模拟电路 故障定位

Fault Diagnosis of LSI Based on ANN and GMTC
HE Yi-gang,XU Wei-Lin,LI Yun. Fault Diagnosis of LSI Based on ANN and GMTC[J]. Journal of Hunan Agricultural University, 2004, 31(6)-40,59
Authors:HE Yi-gang  XU Wei-Lin  LI Yun
Abstract:In the diagnosis of (VLSI) and non-linear circuits ,there have always been difficulties in locating the faults and the diagnosis is very slow. This paper presents a new fault diagnosis method for VLSI based on Artificial Neural Network (ANN) and (GMTC) an
Keywords:neural networks  GMTC  analog circuit  fault location
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