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| 苹果质地品质近红外无损检测和指纹分析 | |
| 引用本文： | 李桂峰,赵国建,王向东,刘兴华.苹果质地品质近红外无损检测和指纹分析[J].农业工程学报,2008,24(6):169-173. |
| 作者姓名： | 李桂峰 赵国建 王向东 刘兴华 |
| 作者单位： | 1. 西北农林科技大学食品科学与工程学院,杨凌,712100;山西师范大学食品科学与工程系,临汾041000 2. 山西师范大学食品科学与工程系,临汾,041000 3. 西北农林科技大学食品科学与工程学院,杨凌,712100 |
| 摘 要： | 为了探索近红外光谱快速无损检测苹果质地品质的方法,采集240个苹果样本的近红外光谱( 波长 8002500 nm),通过解析光谱图和进行不同的预处理,利用偏最小二乘法(PLS)和多元线性回归(MLR)建立回归模型和确定特征指纹图谱.基于波长范围为1300～2500 nm,PLS结合多元散射校正(MSC)所建模型的预测效果最好,硬度模型的预测标准偏差(RMSEP)和决定系数(R2)分别为0.226 kg/cm2、96.52%,脆度模型的 RMSEP和R2分别为0.243 kg/cm2、97.15%.用权重法基于PLS模型选择的硬度特征波长为1657、1725、1790、2455、1929、2304 nm,脆度特征波长为1613、1725、1895、2304、2058、2087、2396 nm,经MLR模型检验,特征波长与苹果的硬度和脆度有很高的相关性,硬度的RMSEP和R2分别为0.271 kg/cm2、90.30%,脆度的RMSEP和R2分别为0.304kg/cn2、91.64%.结果表明,PLS模型和特征指纹光谱均能准确预测苹果的质地品质,为苹果质地品质的评价提供了快速、直观、简便、可行的新方法. |
| 关 键 词： | 苹果 脆度 硬度 近红外光谱 无损检测 指纹图谱 |
| 收稿时间： | 2007/7/26 0:00:00 |
| 修稿时间： | 2008/6/12 0:00:00 |
Nondestructive measurement and fingerprint analysis of apple texture quality based on NIR spectra |
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| Li Guifeng,Zhao Guojian,Wang Xiangdong,Liu Xinghua.Nondestructive measurement and fingerprint analysis of apple texture quality based on NIR spectra[J].Transactions of the Chinese Society of Agricultural Engineering,2008,24(6):169-173. | |
| Authors: | Li Guifeng Zhao Guojian Wang Xiangdong Liu Xinghua |
| Abstract: | |
| Keywords: | apple firmness crunchiness NIR spectra nondestructive measurement fingerprint |
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