| 砷、铅胁迫对小麦幼苗毒害效应及叶片下表皮扫描电镜观察 |
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| 引用本文： | 邵云,姜丽娜,李万昌,李春喜,李向力. 砷、铅胁迫对小麦幼苗毒害效应及叶片下表皮扫描电镜观察[J]. 西北农业学报, 2009, 18(1): 133-138 |
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| 作者姓名： | 邵云 姜丽娜 李万昌 李春喜 李向力 |
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| 作者单位： | 河南师范大学,生命科学学院,新乡,453007 |
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| 基金项目： | 国家科技支撑计划，河南省教育厅自然科学研究项目 |
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| 摘 要： | 以郑州9023为材料,通过小麦发芽试验,研究了As、Pb不同质量浓度胁迫下幼苗的形态、生理指标变化,并对幼苗叶片下表皮进行了扫描电镜观察.结果表明,随着As、Pb胁迫质量浓度的增加,小麦幼苗受毒害症状逐渐加剧,其根长、芽长、根质量、芽质量均呈现出逐渐下降趋势,并与胁迫质量浓度间具有显著或极显著的一元二次函数关系;小麦籽粒α-淀粉酶活性和幼苗叶片叶绿素含量逐渐下降,叶片MDA含量、脯氨酸含量则有不同程度的升高,并且这四项指标在不同胁迫质量浓度之间均有着极显著的差异;另外,小麦叶片下表皮单位面积上的表皮毛数量增多,气孔密度增加,同时气孔开度变小.
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| 关 键 词： | 小麦 砷 铅 幼苗 毒害 扫描电镜 |
| 收稿时间： | 2008-04-10 |
| 修稿时间： | 2008-09-20 |
Toxic Effects of As and Pb to Wheat Seedling and Scanning Electron-microscopic Observation on Nether Epidermis of Leaves |
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| SHAO Yun,JIANG Lin,LI Wanchang,LI Chunxi and LI Xiangli. Toxic Effects of As and Pb to Wheat Seedling and Scanning Electron-microscopic Observation on Nether Epidermis of Leaves[J]. Acta Agriculturae Boreali-occidentalis Sinica, 2009, 18(1): 133-138 |
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| Authors: | SHAO Yun JIANG Lin LI Wanchang LI Chunxi LI Xiangli |
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| Affiliation: | College of Life Sciences, He''nan Normal University, Xinxiang He''nan 453007, China;College of Life Sciences, He''nan Normal University, Xinxiang He''nan 453007, China;College of Life Sciences, He''nan Normal University, Xinxiang He''nan 453007, China;College of Life Sciences, He''nan Normal University, Xinxiang He''nan 453007, China;College of Life Sciences, He''nan Normal University, Xinxiang He''nan 453007, China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Wheat As Pb Seedling Toxic Scanning electron microscope |
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