基质破碎度对光谱法检测基质含水率的影响

为实时、快速、精准地检测基质含水率变化,利用高光谱检测技术,采用偏最小二乘回归法(PLSR),分析5种稻壳基质的反射光谱特征及其与基质含水率、基质破碎度间的关系,建立了基于高光谱检测技术的基质含水率快速预测模型,探索并分析了基质破碎度对模型预测能力的影响。结果表明,高光谱技术可以作为稻壳基质含水率的一种快速检测方法,基质光谱反射率随基质破碎度增大而增大,随基质含水率增大而减小;一阶微分处理(R')模型为基质含水率预测最优模型,对基质T2和T3的含水率预测精度最高,模型外部验证R2val≥0.88,RPD≥3.06,对基质T1含水率预测效果最差,模型外部验证R2val为0.60,RPD为1.67。基质破碎度介于25%至75%时,破碎度对基质含水率与R'相关性的影响不明显。