基于计算机视觉的嵌入式数字IC芯片引脚缺陷检测方法 |
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作者姓名: | 邓承洋 |
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作者单位: | 重庆川仪控制系统有限公司上海分公司 |
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摘 要: | 针对芯片引脚缺陷故障难以精准检测的现状,提出基于计算机视觉的嵌入式数字IC芯片引脚缺陷检测方法。采用计算机视觉技术计算相机水平方向的像素,采集嵌入式数字IC芯片引脚图像;对引脚图像进行图像预处理、引脚缺陷特征提取及缺陷定位处理;计算芯片引脚长度均值,以引脚长度均值为依据进行缺陷检测。试验结果表明:该检测方法在芯片引脚缺失、歪脚、不合格等方面检测结果的准确率得到了显著提高。
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关 键 词: | 计算机视觉 嵌入式数字IC芯片 引脚缺陷检测 缺陷特征提取 |
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