利用荧光SSR标记构建含笑种质指纹图谱

本研究基于高通量荧光SSR标记基因分型技术构建了16份含笑种质的指纹图谱。13对来自近缘种的SSR标记共检测到102条等位片段,每个位点等位基因数5~11不等,平均为7.8个。观测杂合度(Ho)变化范围为0.125 0~0.562 5,平均为0.365 0;期望杂合度(He)变化范围为0.670 3~0.911 3,平均为0.809 9;多态信息量(PIC)变化范围为0.574 8~0.871 4,平均为0.751 5。优选的4对核心引物中,LT106与SGA5组合、LT106与LT58组合以及SGA5与MMA51组合可完全区分16份含笑种质。聚类结果显示16份含笑种质遗传相似系数在0.70~0.90之间,同一种内的不同个体均能很好的聚在一起。本研究建立的荧光SSR基因分型体系高效、快速、准确,不但能为含笑属种质鉴定及新品种保护提供科学理论依据,同时也能为含笑进一步育种工作奠定坚实的基础。