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| X荧光分析 | |
| 引用本文： | 陈 璐,杨 波,刘义保.X荧光分析[J].湖南农机,2014(2):45-47. |
| 作者姓名： | 陈 璐 杨 波 刘义保 |
| 作者单位： | 东华理工大学核工程与地球物理学院; |
| 摘 要： | X射线荧光分析技术具有分析速度快、检测元素广、分析精确度高、操作简便等优点。它在地质、冶金、陶瓷、化工及科学研究等部门中已成为一种重要的分析手段。文章简要介绍说明了X荧光分析实验的原理、仪器和方法,并进行了相关讨论。 |
| 关 键 词： | X荧光分析 探测器 莫塞莱定律 |
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