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| 一种测量光耦内部结构的方法 | |
| 作者单位： | ;1.工业和信息化部电子第五研究所 |
| 摘 要： | 本文根据光耦的原理,并结合X光下的透视图,理论分析光耦内部电气间隙和爬电距离、绝缘穿透距离的可能存在路径,进而实验中利用3只样品即可快速找到最短路径,此方法可为光耦的产品认证及质量筛选提供了有用的参考。 |
| 关 键 词： | 光耦 认证 绝缘穿透距离 内部结构 |
A Method of Measuring the Internal Structure of Optocoupler |
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