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| 微小尘埃的测量方法 | |
| 摘 要： | 专利号:200910235751.O目前,市场上有利用高压放电手段,用石英晶体微量天平(QCM)测量尘埃的方法,但其不足之处需要高压放电组件,尘埃碰撞粒径分离器,结构复杂。最重要的一点是不能用于真空环境,因为高压放电需要空气,尘埃碰撞粒径分离器需要气流。同时,石英晶体微 |
| 关 键 词： | 粘性 石英晶片 分离器 石英晶体微量天平 高压放电 尘埃 不能测量 真空环境 测量方法 不足之处 |
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