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赵建华  邱荣侠 《玉米科学》2003,11(Z1):058-059
本文对子粒败育与乙烯、多胺的关系进行了探讨.采用两类不同基因型(典型的顶端败育类型和正常类型)玉米杂交种为材料,对子粒发育前期乙烯的代谢变化,以及果穗中下部正常子粒上部败育子粒内原精胺(Spm)、亚精胺(SPd)和腐胺(Put)的含量进行了研究,结果表明:败育子粒在受粉后8~12天阶段中多胺含量明显低于正常子粒,子粒的乙烯释放量在授粉后的0~8天也出现.研究认为,乙烯的释放量,及果穗顶部子粒较低的多胺含量都与子粒败育密切相关,同期败育类型玉米子粒的乙烯释放量显著高于正常类型,同一类型中又表现为顶部高于中部。  相似文献   
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