减源处理下小麦粒重稳定性QTL的定位分析

粒重稳定性是小麦稳产性的重要评价指标。为了发掘小麦在遭受虫害等减源逆境伤害时影响粒重稳定性的QTL,以小偃81和西农1376杂交衍生的重组自交系（RILs）群体为试验材料,设早播和晚播两个播期,对减源处理下该群体的粒长、粒宽和千粒重进行表型分析,同时计算减源处理与对照处理的表型比值,进而估测发育稳定性,并利用50K芯片构建的遗传连锁图谱进行QTL定位。结果表明,与对照处理相比,减源处理下RIL群体的粒长、粒宽和千粒重均显著下降。采用完备复合区间模型对不同处理的表型值、表型比值分别进行QTL定位,共检测到18个QTL,分布于2A、3A、3B、3D、4B、4D和5D染色体上,其中有8个QTL在减源处理和对照处理中均表达, Qgl.nwafu-5D.3和 Qkgw.nwafu-5D均在早播对照处理和晚播减源处理中被检测到,平均可解释表型变异的8.73%和8.19%,为稳定QTL,且 Qgl.nwafu-5D.3也在早播减源处理中被检测到,推测这2个稳定QTL可能为新发现的位点。控制表型比值的QTL大多与控制粒长、粒宽和千粒重的QTL区间重合,推测维持减源后粒重稳定性的QTL与控制粒长、粒宽和千粒重的位点紧密连锁或存在“一因多效”现象。     

基于90K芯片的小麦穗长和旗叶长QTL分析

为进一步挖掘控制小麦穗长和旗叶长的QTL,以小偃81和西农1376构建的包含120个株系的F_9∶10RIL群体为材料,于2016年10月至2017年6月和2017年10月至2018年6月分别在陕西杨凌和河南南阳（用2017YL、2017NY、2018YL和2018NY表示）进行试验,对4个环境下的穗长和旗叶长进行表型鉴定,并利用90K芯片构建的高密度遗传连锁图谱进行QTL定位。结果表明,所构建的遗传图谱覆盖了小麦21条染色体,图谱全长3 172.49 cM,平均图距0.57 cM。采用完备复合区间模型对4种环境下的表型值及BLUP育种值分别进行QTL定位,共检测到3个控制穗长的QTL,分布在2B、2D和5D染色体上;检测到2个控制旗叶长的QTL,均分布在5A染色体上,其中控制穗长的 Qsl.nwsuaf-2D、 Qsl.nwsuaf-5D和控制旗叶长的 Qfll.nwsuaf-5A.1能够在多环境下稳定表达,为主效QTL,表型变异解释率分别为18.34%～22.51%、9.57%~14.94%和9.48%～16.36%。该结果可为小麦MAS育种、NIL构建、候选区域筛选及图位克隆等提供参考依据。     

305份国内外小麦种质条锈病与白粉病抗性鉴定与评价

为获得抗病小麦种质以促进其在育种上的应用,利用与抗条锈病基因和抗白粉病基因紧密连锁或共分离的分子标记对国内外的305份小麦种质进行检测.结果显示,携带Yr10、Yr15、Yr18、Yr26、Yr46、Pm8、Pm21 和Pm34 基因的材料分别为5、10、23、0、4、100、1、95份,占比依次为 1.63％、3.2...