铜离子、铅离子胁迫的玉米冠层微分光谱与污染效应

通过设置玉米在不同浓度重金属铜、铅处理下的污染试验,测定玉米冠层在不同浓度重金属铜、铅污染下的高光谱反射率及其对应玉米叶片中的叶绿素、铜含量,分析玉米叶片中的叶绿素含量与土壤中重金属铜、铅浓度的关系,受不同浓度重金属铜、铅污染的冠层光谱的一阶、二阶、三阶、四阶微分光谱及其所对应的微分光谱角的区别,以及微分光谱及其所对应的微分光谱角与叶片中重金属铜含量的相关性。结果表明,玉米叶片中的叶绿素含量与土壤中Cu2+、Pb2+含量呈负相关;微分光谱波段位置的微分值和微分光谱角值可明显分辨受不同浓度重金属铜、铅的污染,微分光谱波段位置的微分值和微分光谱角值与叶片中重金属铜含量有显著相关性。     

重金属铜胁迫玉米叶片的光谱响应特征

为研究玉米叶片的反射光谱特征在受重金属铜胁迫时发生的变化,通过玉米铜胁迫种植试验,分析不同浓度铜胁迫对玉米叶片叶绿素及铜含量的影响,同时根据12个特征波段及其归一化植被指数、光谱角及作者提出的光谱差之和与光谱差均值描述铜胁迫叶片的光谱特征。结果表明:随着土壤中Cu2+浓度升高,玉米叶片铜含量逐渐增加,叶绿素含量逐渐降低;可采用光谱特征波段、归一化植被指数、光谱角、光谱差之和与光谱差均值的方法识别铜胁迫玉米叶片和健康玉米叶片之间的光谱差异。