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位势测度在占位时的求解过程中是一个重要的工具，对谱负Lévy过程的位势测度进行了推广.在目前已有位势测度结论的基础上运用维纳-霍夫分解方法，求出了谱负Lévy过程X在0＜a＜b时，形式为Ex∫τ+bτ+ae－qt1{Xt∈dy,t＜τ－0}dt的位势测度.其表达式用谱负Lévy过程的尺度函数和拉普拉斯的逆函数表示.这些表达式可以应用到一些Lévy风险过程相关的破产时间问题的研究中. 相似文献
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