基于多光谱成像技术选取稻飞虱为害后水稻叶片的特征波段

[目的]研究选取稻飞虱为害后水稻叶片的有效特征波段,用于从大量成像光谱数据中快速识别和分类稻飞虱为害后的水稻叶片。[方法]实验采用多光谱成像系统对400-720 nm波段范围,每隔5 nm的稻飞虱为害后的水稻叶片进行多光谱成像。[结果]根据波段指数原理,计算得出波段515,510,710,555,630,535,505,530和595 nm具有较理想的波段指数值,这些波段信息量丰富、相关性小;实验通过两种分类方法分别对稻飞虱为害后的水稻叶片的分类精度予以计算,得出全波段和特征波段的分类精度均大于90.00%。[结论]这些选取的波段可以作为稻飞虱为害后水稻叶片的有效特征波段,可以用于从大范围农作物中快速识别和分类水稻叶片。