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为探究作物种子品质性状无损检测方法,以100份水稻核心种质资源为试验材料,基于近红外高光谱相机采集水稻种粒的透射、反射光谱数据并提取光谱参数,水稻种粒脱壳后使用近红外谷物分析仪测定米粒品质;以水稻种粒光谱参数为自变量、米粒品质指标为因变量,建立米粒品质预测模型。结果显示,使用单一光谱建模时,透射光谱建模效果优于反射光谱建模效果;结合透射-反射特征光谱集合建模可使粗蛋白预测模型R2从0.74提高至0.91,可使直链淀粉预测模型R2从0.40提高至0.69,可使水分预测模型R2从0.53提高至0.68。结果表明,使用水稻种粒光谱参数可无损预测稻米品质,同时利用透射、反射光谱可提升建模效果。  相似文献   
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