基于计算机视觉的嵌入式数字IC芯片引脚缺陷检测方法

针对芯片引脚缺陷故障难以精准检测的现状，提出基于计算机视觉的嵌入式数字IC芯片引脚缺陷检测方法。采用计算机视觉技术计算相机水平方向的像素，采集嵌入式数字IC芯片引脚图像；对引脚图像进行图像预处理、引脚缺陷特征提取及缺陷定位处理；计算芯片引脚长度均值，以引脚长度均值为依据进行缺陷检测。试验结果表明：该检测方法在芯片引脚缺失、歪脚、不合格等方面检测结果的准确率得到了显著提高。