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The processes involved in the dissolution and growth of crystals are closely related. Atomic force microscopy (AFM) of faceted pits (called negative crystals) formed during quartz dissolution reveals subtle details of these underlying physical mechanisms for silicates. In imaging these surfaces, the AFM detected ledges <1 nanometer (nm) high that were spaced 10 to 90 nm apart. A dislocation pit, invisible to optical and scanning electron microscopy measurements and serving as a ledge source, was also imaged. These observations confirm the applicability of ledge-motion models to dissolution and growth of silicates; coupled with measurements of dissolution rate on facets, these methods provide a powerful tool for probing mineral surface kinetics.  相似文献   
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The atomic force microscope (AFM) was used to image an electrode surface at atomic resolution while the electrode was under potential control in a fluid electrolyte. A new level of subtlety was observed for each step of a complete electrochemical cycle that started with an Au(111) surface onto which bulk Cu was electrodeposited. The Cu was stripped down to an underpotential-deposited monolayer and finally returned to a bare Au(111) surface. The images revealed that the underpotential-deposited monolayer has different structures in different electrolytes. Specifically, for a perchloric acid electrolyte the Cu atoms are in a close-packed lattice with a spacing of 0.29 +/- 0.02 nanometer (nm). For a sulfate electrolyte they are in a more open lattice with a spacing of 0.49 +/- 0.02 nm. As the deposited Cu layer grew thicker, the Cu atoms converged to a (111)-oriented layer with a lattice spacing of 0.26 +/- 0.02 nm for both electrolytes. A terrace pattern was observed during dissolution of bulk Cu. Images were obtained of an atomically resolved Cu monolayer in one region and an atomically resolved Au substrate in another in which a 30 degrees rotation of the Cu monolayer lattice from the Au lattice is clearly visible.  相似文献   
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