温室智能装备系列之九十二衰减全反射-红外光谱和模式识别结合对温室不同种类杂草鉴别技术研究 |
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引用本文: | 马伟,王秀,李翠玲,张东彦.温室智能装备系列之九十二衰减全反射-红外光谱和模式识别结合对温室不同种类杂草鉴别技术研究[J].农业工程技术:农产品加工,2017(13):55-56. |
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作者姓名: | 马伟 王秀 李翠玲 张东彦 |
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作者单位: | 北京农业智能装备技术研究中心,北京,100097 |
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基金项目: | 国家留学基金委项目,北京市创新团队岗位专家项目 |
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摘 要: | 利用衰减全反射法(AT R)对温室生长的杂草叶片进行活体检测,利用红外光谱(FT IR)的指纹特征属性,构建杂草样本的红外指纹图谱,将其作为模式识别(S C MIA)提取的特征数据,以此建立聚类分析数学模型,运用该模型对温室生长的杂草活体样本进行种类模式识别.结果表明,采用这种方法建立的杂草叶片数学模型具有显著的分类和鉴别能力,同时具备较高的准确性、可靠性以及适用性,为机械系统识别传感杂草的研究提供了一种新方法.
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