基于高光谱的玉米大斑病害监测

玉米大斑病是为害玉米生产的主要病害之一,其传统的诊断方法存在工作量大、效率低、主观性强的缺点,探索利用高光谱技术对玉米大斑病害进行快速诊断具有重要的意义。在玉米大田中采集105个玉米大斑病叶片样本,通过测定叶片光谱和病斑面积,开展玉米大斑病病斑面积的定量检测研究。结果表明,不同等级玉米大斑病病斑面积的高光谱差异明显,且多数高光谱区域与病斑面积的相关系数可以达到0.7以上,表明高光谱能够响应玉米大斑病病害;利用偏最小二乘法构建的玉米大斑病诊断模型的表现较好(R~2c=0.726,RMSEc=2.162,RPDc=2.530;R~2v=0.651,RMSEv=2.579,RPDv=2.198),能够实现玉米大斑病病斑面积较为准确的诊断。研究结果可为大田玉米大斑病病斑面积及病害等级的快速诊断提供有效的技术途径和理论探索。

Monitoring of Maize Leaf Blight Disease Based on Hyperspectral