| 基于扫描成像的作物近地高光谱获取与特征分析 |
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| 作者姓名： | 张东彦 黄文江 王纪华 杨贵军 朱大洲 刘镕源 马智宏 |
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| 作者单位： | 1. 国家农业信息化工程技术研究中心,北京,100097;浙江大学农业遥感与信息技术应用研究所,杭州,310029
2. 国家农业信息化工程技术研究中心,北京,100097 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金（41071228,41071276）;国家高新技术研究发展计划（“863”计划）项目（2007AA10Z202）;农业部行业科技项目（200903010）资助 |
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| 摘 要： | 为了验证自主研制的扫描成像光谱仪（PIS）在近地应用的可行性,该文以小麦、玉米为研究对象,利用PIS近地获取作物冠层和叶片的高光谱图像,在对田间和室内获得的成像数据进行对比分析的同时,探讨了成像光谱采集过程中的影响因素。此外,将PIS获取的成像高光谱与地物光谱仪（ASD）测定的高光谱进行比对研究。结果表明：PIS能准确收集作物的光谱信息,且采集的高光谱数据与ASD具有很好的一致性;PIS在田间采集作物光谱信息时,受氧气吸收的影响,在760 nm处有明显的干扰吸收;PIS除了能反映作物不同叶位叶片、不同器官光谱的差异,还可依据影像提取杂草、土壤对作物冠层光谱的影响程度。上述初步结果为进一步应用PIS进行农作物长势诊断提供了参考。
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| 关 键 词： | 光谱测定法 作物 特征提取 扫描成像光谱仪 小麦 玉米 |
| 收稿时间： | 2010-03-09 |
| 修稿时间： | 2010-09-02 |
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