| 基于CAN总线的分立器件测试控制系统设计 |
| |
| 引用本文： | 朱彬,毛玉良,张东卫,潘淳.基于CAN总线的分立器件测试控制系统设计[J].金陵科技学院学报,2004,20(4):7-11. |
| |
| 作者姓名： | 朱彬 毛玉良 张东卫 潘淳 |
| |
| 作者单位： | 东南大学机械工程系,江苏,南京,210096 |
| |
| 摘 要： | 并行总线在构造各种复杂的测控设备中被广泛地应用。本文结合分立器件测控系统的设计，分析了目前使用较多的并行总线控制的特点和存在的问题，提出了基于CAN总线的设计方法，并分析了该方法的可行性及其优势，给出了部分软硬件设计方案。
|
| 关 键 词： | 分立器件测试 并行总线 CAN总线 |
| 文章编号： | 1672-755X(2004)04-0007-05 |
| 修稿时间： | 2004年5月15日 |
CAN-Bus Based Discrete Semiconductor Testing and Controlling System |
| |
| ZHU Bin,MAO Yu-liang,ZHANG Dong-wei,PAN Chun.CAN-Bus Based Discrete Semiconductor Testing and Controlling System[J].Journal of Jinling Institute of Technology,2004,20(4):7-11. |
| |
| Authors: | ZHU Bin MAO Yu-liang ZHANG Dong-wei PAN Chun |
| |
| Abstract: | This paper introduces an application of CAN-Bus control in the discrete semiconductor testing and controlling system with comparison to the parallel bus control which is widely used in various complicated test and controlling devices. |
| |
| Keywords: | discrete semiconductor testing parallel bus CAN-Bus |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
|
