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| 测定完整高粱叶的近轴和远轴表面蜡质量的一个简单方法 | |
| 引用本文： | Prem.,GS 辛爱梅.测定完整高粱叶的近轴和远轴表面蜡质量的一个简单方法[J].杂粮作物,1994(3):55-56. |
| 作者姓名： | Prem. GS 辛爱梅 |
| 摘 要： | 测定完整高粱叶的近轴和远轴表面蜡质量的一个简单方法Ｇ．Ｓ．Ｐｒｅｍａｃｈａｎｄｒａ等植物上表皮蜡质（ＥＷ）能减少蒸发而对保持叶片水分起着重要的作用（Ｂｌｕｍ，１９７５ａ；Ｊｏｒｄａｎ等，１９８４）。另外，某些植物的ＥＷ还可以保护叶片不受机械磨损和昆虫... |
| 关 键 词： | 高粱 叶片 蜡质量 测定 |
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