基于近红外光谱苗期玉米叶片叶绿素含量的无损检测方法 |
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作者姓名: | 翟哲 李伟凯 |
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作者单位: | 黑龙江八一农垦大学信息技术学院,大庆163319 |
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基金项目: | 基金项目:黑龙江八一农垦大学研究生创新科研项目(YJSCX2013-16BYND). |
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摘 要: | 试验以42片未经处理的苗期玉米叶片为试材,采用近红外光谱检测技术和SNV+Detrending的预处理方法,应用偏最小二乘回归分析方法建立定量分析模型,通过测定近红外光谱图,研究3 300~10 000 cm-1范围内苗期玉米叶片的光谱特性。结果表明,测定苗期玉米叶片叶绿素含量的决定系数R2为0.989,残差均方根RMSE为0.047,采用近红外光谱快速检测苗期玉米叶片叶绿素含量是可行的。
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关 键 词: | 近红外光谱 叶绿素 偏最小二乘回归 |
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