| 模拟线性电路K故障假设下最优可测试成分组的确定 |
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| 引用本文： | 谢宏,何怡刚,吴杰.模拟线性电路K故障假设下最优可测试成分组的确定[J].湖南农业大学学报(自然科学版),2003,30(2). |
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| 作者姓名： | 谢宏 何怡刚 吴杰 |
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| 作者单位： | 湖南大学电气与信息工程学院，湖南长沙410082 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目 ( 5 970 70 0 2 ) ( 5 0 2 770 10 )，教育部科学技术研究重点项目 ( 990 90 )，教育部高等学校骨干教师资
助计划项目 (教育部 [2 0 0 0 ] 5 6号 )，高校博士学科点专项基金项目 ( 2 0 0 2 0 5 3 2 0 16) |
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| 摘 要： | 提出了模拟线性电路故障诊断中K故障假设下一组最优可测试成份确定的方法与步骤。该方法构成了故障定位的第一步，且与故障定位方法无关。本方法基于电路的可测试值计算和规范式不确定性组的确定，它在可测试性与不确定性组概念中具有严格的理论基础，其可测试性计算可直接从参数类型故障诊断技术中推得。
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| 关 键 词： | 可测试值 故障定位 规范式不确定性组 |
Determination of Optimum Set of Testable Components Under K-fault Hypothesis in Analog Linear Circuits |
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| XIE Hong,HE Yi gang,WU Jie.Determination of Optimum Set of Testable Components Under K-fault Hypothesis in Analog Linear Circuits[J].Journal of Hunan Agricultural University,2003,30(2). |
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| Authors: | XIE Hong HE Yi gang WU Jie |
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| Abstract: | A kind of method and procedure for determination of an optimum set of testable components in the fault diagnosis of analog linear circuits under K fault hypothesis is presented. The proposed procedure is the first step of fault diagnosis, which has no re |
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| Keywords: | testability value fault location canonical ambiguity group |
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