薄壳山核桃15个家系子代苗期生长和荧光特性比较

为探讨薄壳山核桃半同胞家系子代苗期生长情况和选择利用潜力,给薄壳山核桃苗期优良砧木选择提供依据。以薄壳山核桃15个自由授粉半同胞家系1年生子代幼苗为材料,对其生长和叶绿素荧光特性进行了测定。结果表明:薄壳山核桃家系生长指标和荧光参数在家系间有极显著的差异(P0.01);各家系间存在丰富的变异,变异系数以根干质量、茎干质量、叶干质量、冠根比和品质指数均较大,表明各家系具有选择潜力。苗高和地径以家系3、6、8和11号较大,其中苗高最大值是59.88 cm,地径最大值是0.86 cm;单株生物量和品质指数以家系1号、7号较大,并且这2个家系的根干质量分别为59.72 g和56.92 g;家系1、2、3、6和15号的Fm/Fo(PSⅡ电子传递情况)和Fv/F0(PSⅡ潜在的光化学活性)较大,其中家系3号的Fm/Fo和Fv/Fo高达5.60和4.58。相关分析表明,Fm/Fo、Fv/Fm(PSⅡ最大光化学效率)与苗高、地径和茎干质量呈显著正相关,PIABS(光合性能指数)与高茎比呈显著负相关,Fm/Fo、Fv/Fm可作为薄壳山核桃苗期苗高、地径和茎干质量快速评判的有效指标。通过综合评价和聚类分析,将综合评价(D)值较高的6个家系划分为3类,其中家系3号、6号表型性状和PSⅡ光合效率均优良;家系8号和11号表型性状一般,而PSⅡ光合效率较高;家系1号和7号表型性状和PSⅡ光合效率均一般。薄壳山核桃家系子代苗期表型生长越优良,其PSⅡ指示光合效率的荧光参数值越高,说明叶绿素荧光参数在一定程度上可以反映家系子代苗期的生长状况,能为薄壳山核桃苗期优良砧木的选择提供参考。     

数字温度传感DS18B20在冬枣恒温库的应用

介绍了基于89C52单片机和数字温度传感器芯片DS18B20的温度监测系统在冬枣恒温库的应用。试用表明该系统具有硬件接线简单、成本低、体积小、测量精度高、抗干扰能力强等优点,温度的监测范围为-55～125℃,在-10～85℃范围内的误差在0.5℃以内,具有很好的应用推广价值。