基于高光谱成像的苹果损伤检测方法研究

【目的】研究苹果损伤高光谱特征,建立基于高光谱成像的苹果损伤区域最佳分类模型,为实时、快速、准确地识别苹果损伤提供重要依据。【方法】以北京平谷区收集的苹果样品为研究对象,利用高光谱图像技术检测水果表面机械损伤。利用 390 ~1 000 nm 范围的高光谱图像（HSI）数据,通过比值光谱分析损伤与正常感兴趣区域（ROI）的光谱响应特性,筛选特征波段,并构建较好地突出损伤区域特征的 3 种类型光谱指数：归一化光谱指数（NDSI）、比值光谱指数（RSI）和差值光谱指数（DSI）。在此基础上,优选提取损伤区域能力较强的光谱指数,利用迭代自组织数据分析（ISODATA）无监督据聚类算法提取苹果损伤区域。【结果】当苹果表面受到损伤时,光谱反射率变化显著。波段优化后发现,528、676 nm 的反射率可以有效识别异常区域。基于选定的特征波段,构建苹果损伤检测的识别光谱指数,包括 NDSI、RSI 和 DSI。光谱指数图像的像素值分析发现,损伤区域特征与正常区域特征在各光谱指数（SI）增强图像中区分明显。两类图像特征的 NDSI 像素平均值相差最大、达到 0.629,表明建立的 NDSI 对损伤区域及正常区域特征具有较强的区分能力。利用无监督分类方法 ISODATA 分类,验证了光谱特征指数在检测苹果损伤方面具有较高的特异性,对苹果损伤的检测正确率 达到 92.50%。【结论】研究结果适用于苹果损伤的实时快速检测,为苹果的精准管理生产提供技术基础与参考。